Next generation inspection Technology
Probe card
프로브 카드
초미세 소자 전기검사 기술
초미세 소자용 프로브 카드
수치로 입증되는
세계 최초 ㅣ 세계 유일 ㅣ 세계 최고
iEPT
나노엑스의 고유 NEMS 기술을 통하여 전세계 최초로 탄성체 위에 완전 수직핀을 형성한
멀티 컨텍 프로브 카드의 사용화를 성공하였습니다.
초미세 가공
NANO-X의 고유 NEMS 기술을 통하여 정밀한 핀 형성을 위하여 탄성층 상에 홈을 형성하고 핀을 동시에 성장시키기 때문에 높은 수준의 핀간 높이 및 정렬 오차를 구현할 수 있습니다.
탄성 레이어
NANO-X만의 독자적인 레시피를 통하여 전세계 유일하게 완전 수직형 핀임에도 불구하고 각각의 핀별로 탄성 구동이 가능한 탄성층을 수um 두께의 수십개의 레이어로 구현하여 개별 핀의 Overdrive를 구현하였습니다.
표면처리
NANO-X는 검사 대상의 소자가 프로브카드와 접촉할 때 Particle에 오염되지 않도록 독자적인 표면처리 기술을 통하여 프로브카드 표면에서 떨어지는 Particles을 최소화하여 검사시의 높은 안정성을 보장합니다.
전극 형성
NANO-X는 수지 재질의 탄성층 상에서도 Buckling 및 단락이 발생하지 않도록 하는 고유의 전극 형성 기술을 통하여 탄성 레이어상에서도 멀티 채널을 구현하면서도 수천개의 채널별로 전극을 외부 기기에 연결할 수 있는 높은 확장성을 가집니다.
점차 작아지는 초미세 소자에 대응하기 위해서는 소자 보다 더 작은 Pin Size와 Pin Pitch를 구현해야 하는 초정밀 검사 기술이 필요합니다.
NANO-X는 독보적인 기술로 타사 대비 압도적인 Pin Pitch를 가지면서도 Pin Size를 구현할 수 있어 현존하는 가장 정밀한 프로브 카드를 구현할 수 있습니다.
iEPt™
나노엑스의 iEPt™는
세계 최초로 3D NEMS 기술을 적용,
MicroLED 프로브 시장의 표준을 제시합니다.
당사가 독자적으로 개발한 iEPt™ (individual Elastic Probe technology)는 초미세 Pitch를 구현해마이크로/나노 반도체 소자의 전계발광 (Electro Luminescence, “EL”) 검사를 가능하게 합니다.
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