Probe card

프로브 카드


초미세 소자 전기검사 기술

Probe card

프로브 카드

Nano 초미세 소자 전기검사 기술

초미세 소자용 프로브 카드


수치로 입증되는


세계 최초  세계 유일  세계 최고

iEPT

나노엑스의 고유 NEMS 기술을 통하여

전세계 최초로 탄성체 위에 완전 수직핀을 형성한

멀티 컨텍 프로브 카드의 사용화를 성공하였습니다.

초미세 가공

NANO-X의 고유 NEMS 기술을 통하여 정밀한 핀 형성을 위하여 탄성층 상에 홈을 형성하고 핀을 동시에 성장시키기 때문에 높은 수준의 핀간 높이 및 정렬 오차를 구현할 수 있습니다.

탄성 레이어

NANO-X만의 독자적인 레시피를 통하여 전세계 유일하게 완전 수직형 핀임에도 불구하고 각각의 핀별로 탄성 구동이 가능한 탄성층을 수um 두께의 수십개의 레이어로 구현하여 개별 핀의 Overdrive를 구현하였습니다.

표면처리

NANO-X는 검사 대상의 소자가 프로브카드와 접촉할 때 Particle에 오염되지 않도록 독자적인 표면처리 기술을 통하여 프로브카드 표면에서 떨어지는 Particles을 최소화하여 검사시의 높은 안정성을 보장합니다.

전극 형성

NANO-X는 수지 재질의 탄성층 상에서도 Buckling 및 단락이 발생하지 않도록 하는 고유의 전극 형성 기술을 통하여  탄성 레이어상에서도 멀티 채널을 구현하면서도 수천개의 채널별로 전극을 외부 기기에 연결할 수 있는 높은 확장성을 가집니다.

점차 작아지는 초미세 소자에  대응하기 위해서는

소자 보다 더 작은 Pin Size와 Pin Pitch를

구현해야 하는 초정밀 검사 기술이 필요합니다.

NANO-X는 독보적인 기술로 타사 대비

압도적인 Pin Pitch를 가지면서도

Pin Size를 구현할 수 있어 현존하는 가장 정밀한

프로브 카드를 구현할 수 있습니다.

NANO-X는 완전 수직형 핀으로 소자를 수직으로

검사하기 때문에 소자 손상/오염이 최소화되고

안정화 시간이 짧아 빠른 측정이 가능합니다.


NANO-X는 초정밀 NEMS 공정을 통하여

타사 대비 압도적인 Pin-Pin Height / Alignment Tolerance를 구현할 수 있어 초소형 칩에 대한

정밀 검사가 가능합니다.

iEPt™

나노엑스의 iEPt™는

세계 최초로 3D NEMS 기술을 적용,

MicroLED 프로브 시장의 표준을 제시합니다.



당사가 독자적으로 개발한 iEPt™ (individual Elastic Probe technology)는 초미세 Pitch를 구현해
마이크로/나노 반도체 소자의 전계발광 (Electro Luminescence, “EL”) 검사를 가능하게 합니다.

경기도 수원시 권선구 산업로 190, 나노엑스

031-278-6473 / jin@nanoex.co.kr

Copyright 2024. All Right Reserved.

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